ICS 17.040.20 GB CCS A 42 中华人民共和国国家标准 GB/T 44075-2024 纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性 测量拉曼成像分析法 Nanotechnology-Determination of the uniformity of SERS solid substrate Raman mapping analysis 2024-05-28发布 2024-12-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布
eac
GB/T 44075-2024 目次 前言 引言 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 4方法概要 5仅器设备 6试剂和材料 7测试过程 8测试报告 附录A（资料性） 表面增强拉曼基片均匀性测量拉曼成像分析法示例 参考文献 11
GB/T 440752024 前言 本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草.
请注意本文件的某些内容可能涉及专利.
本文件的发布机构不承担识别专利的责任.
本文件由中国科学院提出.
本文件由全国纳米技术标准化技术委员会（SAC/TC279）归口 本文件起草单位：苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术 与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司.
本文件主要起草人：郭清华、朱建荣、姚建林、袁亚仙、方丹、姜江、席广成、卢获、王震.
