ICS 17.180.99 CCS L 50 中华人民共和国国家标准 GB/T 44221-2024 光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法 Determination of wavefront aberration in optical systems- Electro-optical Shack-Hartmann method 2024-07-24发布 2025-02-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会
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GB/T 44221-2024 目次 前言 1范. 2规范性引用文件 3术语和定义 4测量原理及方法 4.1测量原理 4.2光学系统波前像差测量方法 4.3光学零件面形偏差的测量 5测量条件 5.1测量环境. 5.2样品. 6设备及装置 6.1测量仪 6.2辅助镜头 7测量步骤. 7.1测量前准备 7.2波前重构方法的选择. 7.3光路对准. 7.4测量与数据的判定 8测量数据处理 9测量报告 附录A（资料性） 波前复原方法 附录B（资料性） Zemike多项式序列 附录C（资料性）测量报告 13 参考文献
GB/T 44221-2024 前言 本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规 定起草.
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本文件由中国科学院提出.
本文件由全国光测量标准化技术委员会（SAC/TC487）归口.
本文件起草单位：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所、中国科学院光电技术研究所、中国标 准化研究院、中国科学院空天信息创新研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、苏州慧利 仪器有限责任公司、中国计量科学研究院、长春奥普光电技术股份有限公司、浙江舜宇光学有限公司、 成都科奥达光电技术有限公司、苏州一光仪器有限公司、舟山市质量技术监督检测研究院.
本文件主要起草人：史国华、邢利娜、何益、杨金生、蔡建奇、王璞、刘春雨、韩森、洪宝玉、冯长有、 包明帝、叶虹、谢桂华、伍开军、沈晨雁、郝华东.
