电单 ICS 17.120 CCS 33 中国颗粒学会标准 T/CSP 132024/T/BSPT 62024 颗粒技术微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法 Particulate technologyAnalysis of sub-micron and nanometer heterostructure-Transmission electron microscopy 2024-11-18发布 2024-11-26实施 中国颗粒学会 北京粉体技术协会 发布
T/CSP 13-2024/T/BSPT 6-2024 目次 前言 引言 1范围. 2规范性引用文件 3术语和定义 4原理 5仪器设备， 6样品制备 7步骤 8不确定度， 9测试报告
T/CSP13-2024/T/BSPT 6-2024 前言 本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草.
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本文件由中国题粒学会、北京粉体技术协会联合提出并归口.
本文件起草单位：国家纳米科学中心、国标（北京）检验认证有限公司、国合通用测试评价认证股 份公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）、中国颗粒学会、北京粉体 技术协会.
本文件主要起草人：常怀秋、李婷、白露、杜志伟、齐笑迎、贾荣光、朱晓阳、韩小磊、车聪、高 原、郎爽、毛璐、周素红.
本文件为首次发布.
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T/CSP13-2024/T/BSPT 62024 引言 异质结构由两种或多种不同材料或结构组成.
由于微纳米异质结构的尺寸效应、表面效应、量子隧 道效应等，使其在力学、光学、电学、磁学等方面具有多种可利用的功能，因此在半导体材料、太阳能 电池、医学成像等多种领域具有非常重要的应用价值.
例如，一些纳米核壳材料不仅具有光学特性还具 有生物相容性，在医学成像领域具有广泛应用.
微纳米异质结构的形貌、结构、成分以及界面等往往与材料的宏观性能密切相关，因此对微纳米异 质结构样品多方面的准确分析显得尤为重要.
透射电子显微镜是采用透过样品的电子束成像来显示样品 内部形态与结构的表征设备，其配备扫描透射附件、能谱附件后更能对样品结构、成分进行较精确的分 析，尤其适用于微纳米异质结构样品，可实现微纳米异质结构的形貌、结构、成分和界面的一体化表征.
近年来随着透射电子显微镜分辨率的不断提高，可配备探测器的多样化，以及样品制备技术手段的提升， 使得采用透射电子显微镜对微纳米异质结构样品的分析具有更广泛的适用性和有效性.
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