团体标准 T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器表面云纹 (Mura)缺陷量化方法 Organic light emitting diode displays-Quantitative evaluation methods of surface Mura 2024-10-17发布 2024-10-25实施 湖北省人工智能学会发布
目录 前言 4 有机发光二极管显示器表面云纹（Mura）缺陷量化方法 -5- 1. 范围 .-5- 2. 规范性引用文件 .-5- 3. 术语和定义 -5- 4. 略缩语 -9- 5. 主观实验方法， -9- 5.1概述. -9- 5.2量化因素 -7- 5.3限度样本选取实验 -8- 5.4双刺激度对照实验 -8- 6. 多因素量化公式 -8- 6.1概述 -8- 6.2量化公式分析 -8- 6.3结果表示. -11- 7. 量化神经网络.
-11- 7.1概述 .-11- 7.2后台业务系统 -12- 8. 量化结果验证 .-13- 8.1概述 -13- 8.2评价指标. -13- 8.3验证结果 -13- 8.4对比实验结果 -14- 附录A. -15- A.1概述. -15 - A.2Mura缺陷类型 -15-
B.1概述 16- B.2灰度值排序. 17- B.3双刺激度对照实验流程 -17- 附录C（规范性附录）神经网络量化算法 -19- C.1神经网络量化算法流程. 19- C.2神经网络量化算法推荐使用参数， - 20 -
前言 本标准按照GB/T1.1-2020给出的规则起草.
请注意本部分的某些内容可能涉及专利，本部分的发布机构不承担识别这些专利 的责任.
本标准由湖北省人工智能学会归口.
本标准主要起草单位：华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数 字化设计与制造创新中心有限公司.
本标准主要起草人：杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、 刘酒、林松、陈若愚.
有机发光二极管显示器表面云纹（Mura）缺陷量化方法 1.范围 本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹（Mura)缺陷量化的分级标准及实验 条件、方法.
本文件主要适用于有机发光二极管显示器.
2.规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的.
凡是注日期的引用文件，仅注日期的 版本适用于本文件.
凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适 用于本文件.
GB/T20871.2-2007有机发光二极管显示器第2部分：术语与文字符号 GB/T20871.61-2013有机发光二极管显示器第6-1部分：光学和光电参数测试方 法 -T-339有机发光二极管显示器件第6-2部分：测试方法-一视觉质量和 亮室性能 GB/T20871.63-2021有机发光二极管显示器件第6-3部分：图像质量测试方法 3.术语和定义 下列术语和定义适用于本文件 5.2.1主观量化实验 实验人员在一定条件下通过自己的主观感受对缺陷等级做出判断的实验.
5.2.2目视检查 通过人眼观察显示器上的缺陷来进行缺陷等级评估的方法.
5.2.3限度样本 5 -
