T/SAEG 003-2024 汽车安全气囊 点火驱动芯片.pdf

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ICS43. 040.10 CCS T35 T/SAEG 广西汽车工程学会团体标准 T/SAEG003-2024 汽车安全气囊点火驱动芯片 Vehicle-Airbag ignition driver integrated circuits 2024-08-28发布 2024-08-30实施 广西汽车工程学会 发布
目次 前言.. 1范围.. 2规范性引用文件 3术语和定义 4要求. 4.1功能要求 4.2电性能要求 4.3环境使用等要求 4.3.1温度等级. 4.3.2潮湿敏感度等级. 5试验方法. 5.1总则.. 5.2电性能测试方法 5.2.1电源电压K.. 5.2.2工作电流Ic. 5.2.3点火电流k. 5.2.4点火时间tr. 5.2.5点火时间精度tx 5.3潮湿敏感度分级试验方法 5.4环境可靠性试验方法
T/SAEG003-2024 前言 本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草.

请注意本文件的某些内容可能涉及专利.

本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任.

本文件由广西汽车工程学会提出并归口.

本文件起草单位:中电科芯片技术(集团)有限公司、上汽通用五菱汽车股份有限公司、重庆集诚 汽车电子有限责任公司、浙江松原汽车安全系统股份有限公司 本文件主要起草人:廖鹏飞、夏志勇、黄晓宗、付驿如、刘锐、胡波、葛俊良、欧韦聪、田立军.

II
T/SAEG 003-2024 汽车安全气囊点火驱动芯片 1范围 本文件规定了汽车安全气囊点火驱动芯片的术语、要求及试验方法.

本文件适用于汽车安全气囊点火驱动芯片.

2规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款.

其中,注日期的引用文件, 仅该日期对应的版本适用于本文件:不注日期的引用文件,其最新版本(包括的修改单)适用于本 文件.

GB/T34590.2-2022道路车辆功能安全第2部分:功能安全管理 AEC-Q100-Rev-H Failure mechanism based stress test qualification for integrated circuits JEDEC JSTD020 Moisture/Reflow sensitivity classification for non-hermetic surface mount evices 3术语和定义 下列术语和定义适用于本文件.

安全气囊点火驱动芯片automobileairbag ignitiondriverICs 通过控制高侧、低侧功率金属氧化物半导体场效应晶体管(MetalOxide SemiconductorField Effect Transistor,MOSFET)来驱动安全气囊爆管电阻的芯片.

4要求 4.1功能要求 安全气囊点火驱动芯片一般由电源管理模块、点火回路、接口电路、安全控制模块等组成,拥有多 种工作模式.

4.2电性能要求 安全气囊点火驱动芯片的点火电流和点火时间可通过串行外设接口(SerialPeripheral Interface,SPI)进行,具备多种点火模式,典型点火时间为0.5ms~3ms,点火电流为1.2A~1.85A.

按照本标准5.2的试验方法,表1电特性中的特性参数达到满足使用需求的极限值要求.

表1电特性 序号 特性参数 符号 试验方法 1 电源电压 Kc 本标准5.2.1 2 工作电流 Jc 本标准5.2.2 3 点火电流(模式1、模式2) 本标准5.2.3 4 点火时间 本标准5.2.4 5 点火时间精度 fix 本标准5.2.5 4.3环境使用等级要求
T/SAEG 003-2024 4.3.1温度等级 根据AEC-Q100,安全气囊点火驱动芯片,应满足0级或1级要求,如表2所示.

表2温度等级 温度等级 要求 0级 40 °C150°C 1级 40°C125°C 4.3.2潮湿敏感度等级 根据AEC-Q100,根据使用环境将芯片分为MSL1、MSL2、MSL3、其他四种等级,如表3所示.

表3潮湿敏感度等级 潮湿敏感度等级 要求 MSL1 小于或等于30C/85%H,无限贮存寿命 MSL2 小于或等干30C/60%RH,一年贮存寿命 MSL3 小于或等于30C/60%BH,168h存寿命 其他 以上均不满足 5试验方法 5.1总则 测试环境应符合整车工作状态下的电磁环境模型.

测试项中如有涉及温度工作条件的,所采用的温 度范围应该与对应的可靠性测试报告内标称值一致.

5.2电性能测试方法 5.2.1电源电压V 5.2.1.1目的 测试安全气囊点火驱动芯片的电源电压.

5.2.1.2测试原理图 测试原理图如图1所示.

电源 控制 信号 DUT 图1K的测试原理图

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